X A F S

 

EXAFSで化学状態を分析します

 

 XAFS(X線吸収端微細構造)は、特定原子付近の構造状態を知ることができ、材料分析等に用いることができます。

 EXAFSとNEXAFSの二種類の領域があり、EXAFSは、特定原子の周辺の動径分布を得ることができ、原子の種類や数を知ることができます。

 蓄電池材料や触媒開発に威力を発揮し、また環境化学物質の分析にも適しています。

 

 

分析例 : モリブデンのK吸収端測定

 

   

 

 

 

分析例 : モリブデン酸カリウム粉末の粒径測定

 


 

 

 

分析装置 : XAFS分析ビームライン

 

 

 

光源 MIRRORCLE-CV4
X線エネルギー 10〜25keV

分析可能原子

 

K殻:Ga(31)〜In(49)

L殻:Tl(81)〜U(92)

エネルギー分解能 ΔE / E = 5,000
試料形状 固体、薄膜、溶液、粉末
試料厚さ 数μm〜数十μm
試料サイズ 10 x 30mm

 

 

 

 

 

 


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