受託分析のご依頼は
XAFS
EXAFSで化学状態を分析します
XAFS(X線吸収端微細構造)は、特定原子付近の構造状態を知ることができ、材料分析等に用いることができます。
EXAFSとNEXAFSの二種類の領域があり、EXAFSは、特定原子の周辺の動径分布を得ることができ、原子の種類や数を知ることができます。
蓄電池材料や触媒開発に威力を発揮し、また環境化学物質の分析にも適しています。
分析装置 ： XAFS分析ビームライン
| 光源 | MIRRORCLE-CV4 |
| X線エネルギー | 10〜25keV |
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分析可能原子
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Ｋ殻：Ga(31)〜In(49) L殻：Tl(81)〜U(92) |
| エネルギー分解能 | ΔE / E = 5,000 |
| 試料形状 | 固体、薄膜、溶液、粉末 |
| 試料厚さ | 数μm〜数十μm |
| 試料サイズ | 10 x 30mm |