X線回折(XRD)は、試料からの比較的広角度の散乱X線を計測することにより、原子の並び方などのオングストロームオーダーの情報を知ることができます。
MIRRORCLE-CVシリーズを光源とする装置では、ターゲットを交換することにより、任意の特性X線を利用することができます。
分析装置 : タンパク質構造解析ビームライン
分光器チャンバー、タンパク質構造解析用のゴニオメータとCCD検出器のセット
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